在老化的同时进行功能测试(下)
过去的老化系统
进行老化的第一个原因是为了提高半导体器件的可靠性,目前为止还没有其他的替代方法。老化依然是在高温室(通常125℃左右)内进行,给器件加上电子偏压,大部分时候还使用动态驱动信号。 很多公司想减少或者全部取消老化,但是他们又找不到其他可靠的替代方法能够在产品到达客户之前把有早期故障的剔除掉,所以看来老化还会长久存在下去。半导体生产厂商另外也希望通过老化做更多的事,而不是浪费宝贵时间被动地等待元件送来做老化。 过去的老化系统设计比较简单。10年以前,老化就是把一个器件插入老化板,再把老化板放入老化室,给老化板加上直流偏压(静态老化)并升高温度,168个小时之后将器件取出进行测试。如果经100%测试后仍然性能完好,就可以保证器件质量可靠并将其发送给用户。
如果器件在老化时出现故障,则会被送去故障分析实验室进行分析,这可能会需要几周的时间。过去的老化系统 进行老化的第一个原因是为了提高半导体器件的可靠性,目前为止还没有其他的替代方法。老化依然是在高温室(通常125℃左右)内进行,给器件加上电子偏压,大部分时候还使用动态驱动信号。 很多公司想减少或者全部取消老化,但是他们又找不到其他可靠的替代方法能够在产品到达客户之前把有早期故障的剔除掉,所以看来老化还会长久存在下去。半导体生产厂商另外也希望通过老化做更多的事,而不是浪费宝贵时间被动地等待元件送来做老化。
过去的老化系统设计比较简单。
10年以前,老化就是把一个器件插入老化板,再把老化板放入老化室,给老化板加上直流偏压(静态老化)并升高温度,168个小时之后将器件取出进行测试。如果经100%测试后仍然性能完好,就可以保证器件质量可靠并将其发送给用户。 如果器件在老化时出现故障,则会被送去故障分析实验室进行分析,这可能会需要几周的时间。